第40回スピンエレクトロニクス専門研究会

テーマ：「ナノ領域の磁気計測技術」

日　時：

平成24年6月8日（金）13:00 – 16:40

場　所：

名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリ3階ベンチャーホール

世話人：

加藤剛志（名大），大谷義近（東大），早川純（日立），長浜太郎（北大）

問い合わせ先：

加藤（名大）
takeshik＜at＞nuee.nagoya-u.ac.jp
(＜at＞を@にして送信下さい)
TEL: 052-789-3304

プログラム：

　

13:00 – 13:40

「XFEL SACLAにおける利用研究」
富樫格（高輝度光科学研究センター）

13:40 – 14:20

「電子線ホログラフィーを用いた３次元磁場再構成」
常田るり子，鹿島秀夫，原田研，池田正樹，岩根智広，菅原昭，高口雅成（日立中研）

14:20 – 15:00

「レーザー励起光電子顕微鏡によるナノスケール磁気イメージング」
谷内敏之（東大）

15:00 – 15:20

休憩

15:20 – 16:00

「電子線小角散乱法によるスピントロニクス研究」
戸川欣彦（大阪府立大）

16:00 – 16:40

「Spin SEM」
小池和幸（北大）