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第40回スピンエレクトロニクス専門研究会

テーマ:「ナノ領域の磁気計測技術」

日 時:
平成24年6月8日(金)13:00 – 16:40
場 所:
名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリ3階ベンチャーホール
世話人:
加藤剛志(名大),大谷義近(東大),早川純(日立),長浜太郎(北大)
問い合わせ先:
加藤(名大)
takeshik<at>nuee.nagoya-u.ac.jp
(<at>を@にして送信下さい)
TEL: 052-789-3304
プログラム:
 
13:00 – 13:40
「XFEL SACLAにおける利用研究」
富樫格(高輝度光科学研究センター)
13:40 – 14:20
「電子線ホログラフィーを用いた3次元磁場再構成」
常田るり子,鹿島秀夫,原田研,池田正樹,岩根智広,菅原昭,高口雅成(日立中研)
14:20 – 15:00
「レーザー励起光電子顕微鏡によるナノスケール磁気イメージング」
谷内敏之(東大)
15:00 – 15:20
休憩
15:20 – 16:00
「電子線小角散乱法によるスピントロニクス研究」
戸川欣彦(大阪府立大)
16:00 – 16:40
「Spin SEM」
小池和幸(北大)