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第27回「スピンエレクトロニクス専門研究会」
テーマ: 「スピン計測・評価技術」
日 時: 平成21年12月11日(金)13:30 - 16:50
場 所: 名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリ3階ベンチャーホール
世話人: 加藤剛志(名大),小野輝男(京大),黒岩丈晴(三菱電機),大森広之(ソニー)
問い合わせ先: 加藤(名大) takeshik<at>nuee.nagoya-u.ac.jp(<at>を@にして送信下さい)
TEL: 052-789-3304
プログラム:
13:30 - 14:15 整流効果によるスピンダイナミックス計測
山口明啓,元井桂一,宮島英紀,山岡武博*,内山剛**,内海裕一***(慶應大,*SIIナノテクノロジー,**名大,***兵庫県立)
14:15 - 15:00 3DAP/TEMによる多層薄膜の組成解析
宝野和博,大久保忠勝(物材機構)
15:00 - 15:20 休憩
15:20 - 16:05 磁気力顕微鏡を用いた先端計測の試み− ベクトル磁場計測法ならびに交流磁場計測法の開発 −
斉藤準,江川元太,吉村哲(秋田大)
16:05 - 16:50 単一Co/Pt磁性ナノドットのns領域における磁化反転実験
菊池伸明,岡本聡,北上修(東北大)